激光測(cè)徑儀分類依據(jù)
測(cè)徑儀(激光測(cè)徑儀)大至分激光掃描測(cè)徑儀，CCD投影測(cè)徑儀，激光衍射測(cè)徑儀，其中前兩者都屬光學(xué)的幾何原理，后者為利用光學(xué)的波動(dòng)原理。
CCD投影測(cè)量徑儀，由于電機(jī)速度畢竟有限，而且掃描的平行光帶不太容易保證，再加上平行光管與CCD的技術(shù)的發(fā)展，很多企業(yè)開始采用CCD成像法測(cè)量直徑，在國內(nèi)以上海歐勒在這方面做得較早，其光源采用波長較長的紅外光，抗干擾較強(qiáng)，由于少了許多機(jī)械件，所以設(shè)備較穩(wěn)定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易拓展，特別是大直徑的物體測(cè)量，但又不能太細(xì)，太細(xì)會(huì)有掃描測(cè)徑儀相同的問題。
激光衍射測(cè)徑儀(激光測(cè)徑儀)，利用衍射原理測(cè)量細(xì)線的直徑，此技術(shù)與前兩項(xiàng)剛好相反，只適用于測(cè)小直徑的細(xì)絲，而且越細(xì)越好，因?yàn)榇思夹g(shù)是利用衍射原理，理論只有當(dāng)波長與被測(cè)物相近或大于被測(cè)長物時(shí)衍射*明顯。據(jù)網(wǎng)上查詢，輝煌在這方面處于**地位，其產(chǎn)品在測(cè)量5um到300um的細(xì)絲是沒問題的，根據(jù)其廣告宣傳*大可以測(cè)量到500um。其精度由于限于標(biāo)準(zhǔn)樣件和測(cè)試環(huán)境的影響，只有0.2um左右，但其重復(fù)精度相當(dāng)高，這是細(xì)絲測(cè)徑儀的一個(gè)發(fā)展方向。
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